安徽电子MICROVU影像测量仪

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    MICROVU公司致力于研发生产精密测量设备和精密智能装备。为国内制造业及院校、研究所提供测量技术及智能装备。公司秉着“立足于高科技，服务于企业”的宗旨，为客户提供“专业、及时、高效、”的服务。着力于高科技智能装备及精密测量仪器设备，加大科技研发，提高产品性能，加大新产品，新项目投入。...MICROVU影像测量仪Vertex系列多元传感测量系统搭载全新技术，可实现快速测量和超高精度。***应用于精密加工，电子元器件，塑胶产品等小尺寸零件行业，可配备激光传感器，触发式探针或旋转夹具，实现更多复杂，特殊尺寸的测量。软件方面配备——Micro-Vu自主研发：简单易用，专有的寻边检测算法，可编辑式照明控制和校准，多传感器集成系统，全自动校准，清晰直观的用户界面结合了完整的几何功能。硬件方面搭载的是可定制化光学变焦系统（+3倍数字变焦），高级LED照明系统，手持式控制器；全自动校准包括：工作台非线性补偿，光学镜头非线性补偿和残留误差校准；并拥有与工作站计算机的单个USB连接。自动化MICROVU影像测量仪案例光学影像投影仪和光学影像测量仪一样吗.

    MICROVU公司致力于研发生产精密测量设备和精密智能装备。为国内制造业及院校、研究所提供测量技术及智能装备。公司秉着“立足于高科技，服务于企业”的宗旨，为客户提供“专业、及时、高效、”的服务。着力于高科技智能装备及精密测量仪器设备，加大科技研发，提高产品性能，加大新产品，新项目投入,MICROVUExcel/系列多元传感测量Excel系列多元传感测量系统凭借快速，精密的特点已普遍成为制造商优先的测量平台，Excel系列机型测量范围广（400mm*500mm至1600mm*2500mm），满足几乎所有类型的测量需求，广泛应用于消费电子类平板，手机，汽车，电路板等行业。可选配激光传感器，触发式探针和旋转夹具，轻松应对各类复杂尺寸的测量要求。除传统的影像测量优势外，Excel系列机型配备强大的多元传感整合能力，运行速度和3D测量性能都更上一个台阶。硬件方面有：全自动校准光学变焦系统，LED照明系统，手持式控制器；软件方面搭载INSPEC***软件，全自动非线性补偿机制，独特的寻边算法。全系列标配花岗岩基座，确保测量的平稳性和重复性。

Micro-Vu始建于1959年南加州的圣费尔南多谷。初期的目标是以一般市场可承受的价格提供精密光学比较器。当时市场上大多数测量和检测系统对于普通小加工厂来说价格过于高昂，而这些规模较小的机床店，加工厂同样需要提高零件的加工质量。Micro-Vu的初代产品是一种便携式光学比较器。Micro-Vu设计研发了一种特殊的镜头系统使得设备以较低的成本同样能够提供清晰的成像，该款光学比较器一经面市即获得市场的欢迎。

随后的几年间，Micro-Vu拓展了其产品线以开发更大，更精密的测量机器以满足客户的需求。在70年代发售全系列的光学比较器并配备了诸如透镜表面照明和集成数字读数等在当时较为先进的功能。 MICROVU一键式测量仪.

与SPC相关的几个重要的概念 1. 变差 就像世界上没有两张完全相同的树叶一样，任何一个工厂，无论其生产技术多么先进，从其生产线出来的同一种产品或多或少总会存在一些差异，这种差异就是变差。比如，同一生产线生产出的一批合格螺栓，长度不可能做到完全一样。 2. 普通原因 vs 特殊原因 同样的道理，为什么两个相同的汉堡并不能保证其重量完全相等呢？这是因为制作汉堡的工艺流程不可能保证每一个汉堡的重量***的一样，总会存在一些细微差异。只不过作为顾客的我们能够接受这样的差异。我们把导致这种普遍的、固有的、可接受的变差的原因，叫做普通原因 。 但是如果哪天你买了两个同样的汉堡，却发现其中一个汉堡中间完全没有加蔬菜，这不再是常见的、普通的变差了，而是有某种特殊原因导致的变差，比如员工的操作失误。这种变差往往是顾客不能接受的。我们把导致这种非普遍的、非固有的、异常的变差的原因叫做特殊原因 。 3.受控 vs 不受控 如果一个过程**只有普通原因引起的变差，我们就说这个过程受控。 如果一个过程存在特殊原因引起的变差，我们就说这个过程不受控。 控制图的作用就是帮助我们发现并消除导致过程变异的特殊原因，使过程从不受控变成受控。MICROVU影像测量仪如何编程.认可MICROVU影像测量仪联系方式

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    MICROVU公司致力于研发生产精密测量设备和精密智能装备。为国内制造业及院校、研究所提供测量技术及智能装备。公司秉着“立足于高科技，服务于企业”的宗旨，为客户提供“专业、及时、高效、”的服务。着力于高科技智能装备及精密测量仪器设备，加大科技研发，提高产品性能，加大新产品，新项目投入.Micro-Vu提供的激光传感器可单点聚焦和表面扫描，在测量高度，台阶，平面度以及轮廓度时相较于传统接触式采点测量，非接触式图像传感器都有很大的优势。根据零件材质和表面状况来区分，Micro-Vu**新版INSPEC软件开放PointCloud（点位簇）功能，在使用点扫描或线扫描采集到足够数量的样本点位后，您可以根据不同的的需求筛选出某一特定区域（立方体/圆柱体）内的点位，或只采集**大/**小的峰值点位，筛选的方式可以是输入三维坐标，鼠标拖动可视化的区域，直观高效。安徽电子MICROVU影像测量仪