国内光谱共焦应用案例

硅片栅线的厚度测量方法我们还用创视智能TS-C系列光谱共焦传感器和CCS控制器，TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现0.025 μm的重复精度，±0.02% of F.S.的线性精度，10kHz的测量速度，以及±60°的测量角度，能够适应镜面、透明、半透明、膜层、金属粗糙面、多层玻璃等材料表面，支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。我们主要测量太阳能光伏板硅片删线的厚度，所以这次用单探头在二维运动平台上进行扫描测量。栅线测量方法：首先我们将需要扫描测量的硅片选择三个区域进行标记如图1，用光谱共焦C1200单探头单侧测量 ，栅线厚度是栅线高度-基底的高度差。二维运动平台扫描测量（由于栅线不是一个平整面，自身有一定的曲率，对测量区域的选择随机性影响较大）。激光位移传感器的应用主要是用于非标的特定检测设备中。国内光谱共焦应用案例

玻璃基板是液晶显示屏必不可少的零部件之一，一张液晶显示屏要用二张玻璃基板，各自做为底层玻璃基板和彩色滤底版应用。玻璃基板的品质对控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、净重、可视角度等数据都是有关键危害。玻璃基板是组成液晶显示屏元器件一个基本上构件。这是一种表层极为平坦的方法生产制造薄玻璃镜片。现阶段在商业上运用的玻璃基板，其厚度为0.7 mm及0.5m m，且将要迈进特薄厚度之制造。大部分，一片TFT-LCD控制面板需用到二片玻璃基板。因为玻璃基板厚度很薄，而厚度规格监管又比较严格，一般在0.01mm的公差，关键清晰地测量夹层玻璃厚度、涨缩和平面度。选用创视智能自主生产研发的高精度光谱共焦位移传感器可以非常好的处理这一难题，一次测量就可以完成了相对高度值、厚度系数的收集，再加上与此同时选用多个感应器测量，不仅提高了效率，并且防止触碰测量所造成的二次损害 。非接触式光谱共焦主要功能与优势光谱共焦技术具有很大的市场潜力。

三坐标测量机是加工现场常用的高精度产品尺寸及形位公差检测设备 ，其具有通用性强，精确可靠等优点。本文面向一种特殊材料异型结构零件内曲面的表面粗糙度测量要求，提出一种基于高精度光谱共焦位移传感技术的表面粗糙度集成在线测量方法，利用工业现场常用的三坐标测量机平台执行轮廓扫描，并记录测量扫描位置实时空间横坐标，根据空间坐标关系，将测量扫描区域的微观高度信息和扫描采样点组织映射为微观轮廓，经高斯滤波处理和评价从而得到测量对象的表面粗糙度信息。

三坐标测量机是加工现场常用的高精度产品尺寸及形位公差检测设备，其具有通用性强，精确可靠等优点。本文面向一种特殊材料异型结构零件内曲面的表面粗糙度测量要求，提出一种基于高精度光谱共焦位移传感技术的表面粗糙度在线测量的方法，利用工业现场常用的三坐标测量机平台执行轮廓扫描，并记录测量扫描位置实时空间横坐标，根据空间坐标关系，将测量扫描区域的微观高度信息和扫描采样点组织映射为微观轮廓，经高斯滤波处理得到测量对象的表面粗糙度信息 。光谱共焦技术将对未来的科学研究和产业发展产生重大影响。

光谱共焦是一种先进的光学显微镜技术，通过聚焦光束在样品上，利用谱学分析方法获取样品的高分辨率成像和化学信息。我们公司的产品，光谱共焦显微镜，具有以下特点：1.高分辨率成像：光谱共焦显微镜采用先进的光学系统和探测器，能够实现超高分辨率的样品成像，捕捉到细微的细节和微观结构。2.多模式测量：我们的光谱共焦系统支持多种成像模式，包括荧光成像、二阶谐波成像等，可满足不同应用领域的需求 。3.实时成像和谱学分析：光谱共焦技术可以实时获取样品的成像和谱学信息，为研究人员提供了及时、准确的数据，加速科学研究的进展。4.非破坏性分析：光谱共焦显微镜采用非接触式成像，无需对样品进行处理或破坏，保持了样品的完整性，适用于对生物、材料等敏感样品的研究。我们致力于为各个领域的研究人员提供先进、可靠的光谱共焦显微镜产品，助力科学研究的发展。如果您对我们的产品感兴趣或有任何疑问，请随时联系我们，我们将竭诚为您服务。通过我们的光谱共焦显微镜，您将享受到前所未有的高分辨率成像和谱学分析的乐趣！光谱共焦技术的应用将有助于推动中国科技创新的发展。新型光谱共焦推荐

光谱共焦技术在医疗器械制造中可以用于医疗器械的精度检测和测量。国内光谱共焦应用案例

光谱共焦技术是一种高精度、非接触的光学测量技术，将轴向距离与波长的对应关系建立了一套编码规则。作为一种亚微米级、迅速精确测量的传感器，基于光谱共焦技术的传感器已广应用于表面微观形状 、厚度测量、位移测量、在线监控和过程管控等工业测量领域。随着光谱共焦传感技术的不断发展，它在微电子、线宽测量、纳米测试、超精密几何量测量和其他领域的应用将会更加广。光谱共焦技术是在共焦显微术基础上发展而来，无需轴向扫描，可以直接利用波长对应轴向距离信息，大幅提高测量速度。国内光谱共焦应用案例